72DL 超薄材料测厚

一、 检测对象 试块材质为高分子材料,其他背景客户未告知。

二、 实验设备 ➢ 主机：奥林巴斯测厚仪 72DL ➢ 探头：M2104 ➢ 耦合剂

三、 实验数据 1. 一号试块：0.05mm。  2、二号试块：0.025mm。３、三号试块：0.015mm。

四、实验结论 采用奥林巴斯超声测厚仪 72DL 配合高频 M2104 探头,可以满足 0.015mm 厚度测量。